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一納米定成敗
儀器品牌：日立 HITACHI
儀器型號：FT160
即使是1納米也會產(chǎn)生巨大差異，所以，您需要一臺高端XRF 鍍層測厚儀滿足當(dāng)今電子行業(yè)及未來納米分析的需求，為微型結(jié)構(gòu)選擇精準(zhǔn)分析。
高強(qiáng)度X射線-儀器的核心所在是全新的毛細(xì)管聚焦光學(xué)系統(tǒng)，其具備的30um光束適合于測量微小的半島體圖案和超小型元件。
?● 最優(yōu)分辨率硅漂移探測器-這一高性能裝置使計(jì)數(shù)率加倍，確保實(shí)施可重復(fù)測量以提高生產(chǎn)力。?
● 大型樣品室門-便于操作員裝載和卸載樣品，此外，F(xiàn)T160還具有寬敞的樣品室，以容納各種形狀的樣品，封閉式樣品室也最大?限度提高安全性。
?● 高清相機(jī)-樣品觀察相機(jī)的分辨率得到提高-且具有16倍數(shù)字變焦功能-使半導(dǎo)體表面清晰準(zhǔn)確，從而最大限度地減少失真和重復(fù)測試。
?● 全新控制器軟件-只需在屏幕上確定最佳測量點(diǎn)，然后運(yùn)行分析。
● 可確定從鋁（11）到鈾（92）等多種金屬的鍍層厚度。
suzhou puxiang electrical tech co., ltd
電話：18962383380 / 0512-57685052
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